Σκοπός του μαθήματος είναι η εξοικείωση των φοιτητών / φοιτητριών με τις σύγχρονες τεχνικές ελέγχου ορθής λειτουργίας τόσο των ψηφιακών όσο και των αναλογικών ολοκληρωμένων κυκλωμάτων.

Με την επιτυχή ολοκλήρωση του μαθήματος ο φοιτητής / τρια θα:

• μπορεί να περιγράφει τα αίτια που οδηγούν σε αποκλίσεις των ολοκληρωμάτων από την επιθυμητή τους συμπεριφορά, και να αντιλαμβάνεται τις επιπτώσεις των αποκλίσεων αυτών στην αξιοπιστία και στο κόστος
• μπορεί να αναγνωρίζει τους τύπους των ελαττωμάτων που υπεισέρχονται στη λειτουργία ενός ψηφιακού κυκλώματος και να χρησιμοποιεί κατάλληλα μοντέλα για την περιγραφή τους
• μπορεί να σχεδιάζει και να υλοποιεί τεχνικές για τον έλεγχο της ορθής λειτουργίας ενός ψηφιακού ολοκληρωμένου κυκλώματος
• μπορεί να αναγνωρίζει τους τύπους των ελαττωμάτων που υπεισέρχονται στη λειτουργία ενός αναλογικού κυκλώματος και να χρησιμοποιεί κατάλληλα μοντέλα για την περιγραφή τους
• μπορεί να σχεδιάζει και να υλοποιεί τεχνικές για τον έλεγχο της ορθής λειτουργίας ενός αναλογικού ολοκληρωμένου κυκλώματος

• Αυτόνομη εργασία
• Προαγωγή της ελεύθερης, δημιουργικής, παραγωγικής και επαγωγικής σκέψης
• Αναζήτηση, ανάλυση και σύνθεση δεδομένων και πληροφοριών, με τη χρήση και των απαραίτητων τεχνολογιών

Σύντομη περιγραφή

• Τεχνικές σχεδίασης για τον έλεγχο της ορθής λειτουργίας και τη διάγνωση ψηφιακών ολοκληρωμένων κυκλωμάτων (σειριακή σάρωση, ενσωματωμένος αυτοέλεγχος, παρατήρηση ρεύματος IDDQ, εν λειτουργία έλεγχος, έλεγχος μνημών) και πρότυπα ελέγχου IEEE 1149.1 και ΙΕΕΕ 1500.
• Τεχνικές σχεδίασης για τον έλεγχο της ορθής λειτουργίας αναλογικών ολοκληρωμένων κυκλωμάτων (συμβατικές τεχνικές ελέγχου επιδόσεων (specification tests), τεχνικές προσανατολισμένες στην ανίχνευση ελαττωμάτων [defect oriented tests - DOT], εναλλακτικός έλεγχος [alternate test])

Θεματικές ενότητες ανά εβδομάδα

1. Εισαγωγή, προαπαιτούμενες γνώσεις
2. Βασικές έννοιες (ελάττωμα, σφάλμα κ.λπ.) και δείκτες (κατασκευαστική απόδοση και απώλειά της, επίπεδο ελαττωμάτων, κ.λπ.), αξιοπιστία ηλεκτρονικών συστημάτων (ρυθμός βλαβών, MTBF, κ.λπ.)
3. Αρχές ελέγχου ψηφιακών ολοκληρωμένων κυκλωμάτων
4. Σφάλματα μόνιμης τιμής
5. Σφάλματα τρανζίστορ, σφάλματα γραμμών, σφάλματα καθυστέρησης
6. Εξοπλισμός αυτόματου ελέγχου (ΑΤΕ), αυτόματη παραγωγή διανυσμάτων ελέγχου (ATPG)
7. Σχεδίαση για ελεγξιμότητα - σχεδίαση σάρωσης, ενσωματωμένος έλεγχος και αυτοέλεγχος
8. Παρατήρηση ρεύματος IDDQ, εν λειτουργία έλεγχος, έλεγχος μνημών
9. Τα πρότυπα ελέγχου IEEE 1149.1 και ΙΕΕΕ 1500
10. Τεχνικές σχεδίασης για τον έλεγχο της ορθής λειτουργίας αναλογικών ολοκληρωμένων κυκλωμάτων
11. Τεχνικές προσανατολισμένες στην ανίχνευση ελαττωμάτων [defect-oriented tests-DOT]
12. Εναλλακτικός έλεγχος [alternate test]
13. Ανακεφαλαίωση

Η γλώσσα αξιολόγησης είναι η ελληνική, με την εξαίρεση των εισερχόμενων φοιτητών Erasmus οι οποίοι αξιολογούνται στην αγγλική.

Το μάθημα αξιολογείται με γραπτή τελική εξέταση τρίωρης διάρκειας, η οποία συνεισφέρει το 75% του τελικού βαθμού και με γραπτή ενδιάμεση εξέταση (πρόοδο), με βαρύτητα 25%.

1.    Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez (editors), Defect-Oriented Testing for NanoMetric CMOS VLSI Circuits, Springer, 2007 (κωδικός στον Εύδοξο: 176510)
2.    Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha, Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits, Springer, 2006 (κωδικός στον Εύδοξο: 169692)
3.    Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen, VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability, Academic Press, 2006
4.    Yichuang Sun, Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits: The System on Chip Approach, IET, 2008

https://eclass.uop.gr/modules/auth/courses.php?fc=303